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4062／4070用
半導体測定解析シェル |
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４０６２ＵＸ／４０７０およびフルオートプローバを使用し、半導体の特性測定・評価を容易にかつ高速で行っていただくために、
測定に必要な各種の測定機能、自動測定機能、測定データの一次解析機能等を組み合わせたプログラムです。 |
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MAPS11カタログ 開く（PDFファイル） ダウンロード (420KB) |
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4070用
液晶基板測定解析シェル |
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４０７０シリーズおよびフルオートプローバを使用し、液晶基盤の特性測定・評価を容易にかつ高速で行っていただくために、
測定に必要な各種の測定機能、自動測定機能、測定データの一次解析機能等を組み合わせたプログラムです。 |
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MAPS LCDカタログ 開く（PDFファイル） ダウンロード (355KB) |
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単体測定器用
半導体測定解析シェル |
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４１５６Ｂ等の単体測定器を組み合わせ、低価格・高精度なテスターの構築が行えます。フルオートプローバを制御し、
半導体の特性測定・評価を容易にかつ高速で行っていただくために、測定に必要な各種の測定機能、自動測定機能、
測定データの一次解析機能等を組み合わせたプログラムです。 |
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MAPS PCカタログ 開く（PDFファイル） ダウンロード (407KB) |
