|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
||
|
ホーム | |
ＭＡＰＳ | |
ＳＰＡＲＫ | |
ＲＡＳＣＡＬ | |
ユーザ入口 | |
会社概要 | |||||||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
||
| 弊社では半導体のパラメータ測定において、アジレント・テクノロジー様の測定器を使用し、様々なニーズにお答えするための測定シェルを取り揃えております。 さらに、弊社の測定シェルをご使用いただくことにより、測定器だけでなく、プローバのコントロールを行なうこともできます。 また、必要に応じお客様ごとにカスタマイズを行なうことも可能です。 |
||
| 更新履歴 | ||
| 2009.01.10 サイトリニューアル |
||